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BSS16-70CZR15SURUGA SEIKI X轴直线滚珠滑台手动舞台70mm





产品型号:BSS16-70CZR15
更新时间:2026-07-09
厂商性质:经销商
访问量:25
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SURUGA SEIKI X轴直线滚珠滑台手动舞台70mm
SURUGA SEIKI X轴直线滚珠滑台手动舞台70mm
BSS16-70:标准银面款,不锈钢无电解镍镀层,通用工业、检测设备,耐腐蚀耐磨
BSB16-70:光学专用黑面款,低温哑光黑铬,抑制杂散光,激光 / CCD / 显微光路专用
编码释义
16:BSS/BSB 超薄一体式滚珠 X 轴系列,整机统一高度 16mm
70:方形工作台面 70×70mm
A:中心进给微分头;C:侧面进给微分头
Z:侧边锁紧装置,定位锁死防震动漂移
R:镜像反向款(微分头操作侧左右互换)
FH:粗微双分头;FP:内六角丝杆无外露手轮;LP:长行程丝杆
1/5/7:丝杆螺距 0.25/0.5/1.0mm;J:高精度洁净型;GP:无尘专用润滑脂
| 参数项目 | 规格数值 |
|---|---|
| 导轨结构 | 一体式不锈钢直线滚珠导轨,哥特式圆弧滚道预压消除间隙 |
| 台面尺寸 | 70mm × 70mm 正方形 |
| 总行程 | 13mm(双向 ±6.5mm) |
| 微分头最小刻度 | 10μm(0.01mm) |
| 标准丝杆螺距 | 0.5mm,可选 0.25/1.0mm |
| 水平额定负载 | 23 kgf(225.4 N) |
| 垂直允许负载 | 5 kgf(49 N) |
| 运动直线度 | ≤1 μm |
| 俯仰误差 | ≤25″ |
| 偏航(横摆)误差 | ≤15″ |
| 台面运动平行度 | ≤7 μm;整机平行度≤15 μm |
| 允许力矩负载 | 俯仰 13.8N・m / 偏航 13.8N・m / 侧倾 12.9N・m |
| 整机厚度 | 统一 16mm 超薄机身 |
| 整机自重 | 0.58 kg(580g) |
| 标配安装螺丝 | M4×6 内六角螺丝 4 颗 |
| 主体材质 | 全不锈钢 |
| 环保标准 | 符合 RoHS 10 项有害物质规范 |
一体铣削高刚性超薄结构
底座与导轨整体加工无拼接缝隙,机身仅 16mm 厚度,可多层堆叠搭建 XY/XYZ 组合位移平台;循环滚珠预压结构,移动顺滑、无空回,重复定位稳定性优异。
两种表面工艺分场景选型
BSS 镀镍银面:抗腐蚀、耐磨损,探针台、普通精密工装、工业微调通用;
BSB 哑光黑铬面:低漫反射,大幅减少光路杂散光,光纤耦合、显微成像、光谱仪、激光光斑校准优选。
多进给、锁紧、洁净方案全覆盖
标准微分头:微米级精细微调;
FH 粗微双头:快速粗定位 + 精密微调,大幅提升调试效率;
FP 内六角丝杆:设备狭小腔体内部安装,无突出手轮节省空间;
Z 锁紧套件:调节完成后机械锁死,隔绝产线震动导致的位移漂移;
GP 洁净润滑版本,适配半导体晶圆、光学无尘车间。
超大力矩承载
同系列最高力矩刚性,可搭载大尺寸镜头、重样品载台、重型探针模组,偏摆形变极小。
光学平台:大功率激光耦合、干涉仪、椭偏仪、光谱仪大尺寸样品台
视觉检测:大面阵工业相机对位、晶圆 / 陶瓷精密尺寸检测、探针测试台
半导体设备:SiC / 硅片微调、薄膜镀膜工装、点胶 / 喷胶分配头位移机构
实验室仪器:生物显微成像、光学干涉测试、大型精密校准治具
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