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产品型号:LSM-9100WNIR
更新时间:2026-09-29
厂商性质:经销商
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✅ 产品核心特点
完整光学组件:POLAX 偏光板、RETAX 波片、单色 LED 光源、CCD 成像模块,支持正交尼科尔斯法、圆偏光法、敏锐色法(Senarmont 补偿法)三种检测模式
两大检测形态:目视定性观察、软件自动定量测量相位差 nm,换算应变 / 应力大小与主轴方向
机型覆盖:便携小型 → 台式宽视场 → 全自动高精密变焦机型;可见光机型 + 近红外 NIR 机型(硅片专用)
配套原厂相位差标准片,用于设备定期校验,满足 ISO 品质管控
软件输出应力云图、数据报表,可导出保存,用于来料检验、制程管控
📋 LSM 主流型号分类
① 便携目视型(简易定性,产线抽检)
LSM-1000LE:小型便携式,可电池供电,适合玻璃边缘、小件树脂、盖板边角应变目视检查;配套敏锐色板、1/4 波片
LSM-V50(新款):轻量化约 6kg,可立式 / 卧式两用,适配长尺寸工件;标配多档位标准相位差片,现场比对方便
② 台式宽视场机型(目视 + 相机采集,量产质检)
LSM-2100LE / LSM-2200LE / LSM-2300LE:中小型样品目视检查,适合实验室、来料抽检
LSM-4200LE / LSM-4300LE / LSM-4400LE:大视场台式,大面积板材、注塑件、光学板材;4401LE 载台可调
③ 全自动精密定量机型(StrainEye 系列,实验室 / 研发,高精度云图测量)
LSM-9002LE:大测量区域 205×205mm,量程 0~130nm 相位差,大面积样品全域扫描
LSM-9100WS:带 6 倍变焦镜头,微小区域高精度测量,最高可测 3000nm 相位差;适合小尺寸光学元件、半导体封装
LSM-9001NIR / LSM-9100WNIR:近红外机型,硅晶圆、半导体封装内部应变检测(可见光无法穿透硅)
补充:FSM 系列(FSM-6000LE / FSM7000H)属于玻璃表面应力仪,和 LSM 内部应变仪区分:FSM 专门测化学强化玻璃表面压应力 CS + 应力层深度 DOL,不是体内部应变分布
🏭 适用样品 & 行业应用
玻璃类:化学强化盖板玻璃、车载玻璃、光学玻璃、硼硅玻璃器皿、玻璃晶圆
树脂塑料:亚克力、PC、注塑透镜、光学薄膜、透明注塑件(检测成型残余应变)
半导体 / 光学:光学透镜、棱镜、半导体透明封装件
行业:显示、车载光学、医疗器械、光学元件、材料研发、来料品质检验
📌 核心选型区分要点
只看内部整体应变分布、干涉花纹,不需要精确数值 → LSM-1000LE / LSM-V50 / LSM4xxxLE
需要全域应力云图、定量相位差数值 → LSM9002LE / LSM9100WS 全自动系列
硅晶圆、半导体封装 → LSM NIR 近红外机型
化学钢化玻璃表面应力 CS/DOL → 选 FSM 表面应力仪(不是 LSM)
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