日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统
应变、应力、取向和晶体缺陷的质量控制

Name: Photonic Lattice 二维双折射评估系统PA-300-L
Brand: Photonic Lattice
Price: 2888 CNY
Availability: InStock

产品型号：PA-300-L

更新时间：2026-09-03

厂商性质：经销商

访问量：13

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产品介绍

日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统
日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统

PA-300 技术规格
	测量
输出项目	相位差（nm），相位轴方向（°）*应力值可通过数据处理选项进行转换（MPa）
测量范围	0–130nm
重复性	相位差：σ < 0.1 nm；轴向取向：σ < 0.1°（相位差 > 10 nm）
	传感器单元
双折射像素的数量	2056 × 2464（约 500 万）像素
测量波长	520纳米
	内阁
尺寸（宽 x 深 x 高）	270 × 337 × 最大 631 毫米
测量视场尺寸	约 30 x 36 毫米至 100 x 133 毫米（标准镜头）约 5.5 x 6.6 毫米至 25 x 30 毫米（变焦镜头 *可选）
主机重量	约12公斤
	其他的
界面	千兆以太网（摄像机信号）
电源/电流消耗	交流100~240伏（50/60赫兹）/约6.0安
软件	PA视图
配件	台式电脑、标准镜头、使用说明书
	选项
变焦镜头	一致
数据处理功能	一致
广域校正功能	一致
透镜分析功能	一致
实时分析功能	一致
外部控制功能	一致
波长色散（CD）模式	不支持
WPA高相位差测量功能	不支持
镜头测量专用舞台	一致
PA/WPA系统的遮光罩	一致
光弹性系数测量选项	不支持

PA-300-L 技术规格
	测量
输出项目	相位差（nm），相位轴方向（°）*应力值可通过数据处理选项进行转换（MPa）
测量范围	0–130nm
重复性	相位差：σ < 0.1 nm；轴向取向：σ < 0.1°（相位差 > 10 nm）
	传感器单元
双折射像素的数量	2056 × 2464（约 500 万）像素
测量波长	520纳米
	内阁
尺寸（宽 x 深 x 高）	430 × 487 × 最大 1166 毫米
测量视场尺寸	约 37 x 44 毫米至约 240 x 320 毫米（标准镜头）约 5.5 x 6.6 毫米至约 25 x 30 毫米（变焦镜头 *可选）
主机重量	约23公斤
	其他的
界面	千兆以太网（摄像机信号）
电源/电流消耗	交流100~240伏（50/60赫兹）/约6.0安
软件	PA视图
配件	台式电脑、标准镜头、使用说明书
	选项
变焦镜头	一致
数据处理功能	一致
广域校正功能	一致
透镜分析功能	一致
实时分析功能	一致
外部控制功能	一致
波长色散（CD）模式	不支持
WPA高相位差测量功能	不支持
镜头测量专用舞台	待讨论
PA/WPA系统的遮光罩	一致
光弹性系数测量选项	不支持

PA-300-XL 技术规格
	测量
输出项目	相位差（nm），相位轴方向（°）*应力值可通过数据处理选项进行转换（MPa）
测量范围	0–130nm
重复性	相位差：σ < 0.1 nm；轴向取向：σ < 0.1°（相位差 > 10 nm）
	传感器单元
双折射像素的数量	2056 × 2464（约 500 万）像素
测量波长	520纳米
	内阁
尺寸（宽 x 深 x 高）	650 x 650 x 最大 1930 毫米
测量视场尺寸	尺寸约为 242 x 290 毫米至 360 x 480 毫米（标准镜头）
主机重量	约46公斤
	其他的
界面	千兆以太网（摄像机信号）
电源/电流消耗	交流100~240伏（50/60赫兹）/约6.0安
软件	PA视图
配件	台式电脑、标准镜头、使用说明书
	选项
变焦镜头	不支持
数据处理功能	一致
广域校正功能	一致
透镜分析功能	一致
实时分析功能	一致
外部控制功能	一致
波长色散（CD）模式	不支持
WPA高相位差测量功能	不支持
镜头测量专用舞台	不支持
PA/WPA系统的遮光罩	不支持
光弹性系数测量选项	不支持