日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统
应变、应力、取向和晶体缺陷的质量控制

Name: Photonic Lattice 二维双折射评估系统WPA-300-L
Brand: Photonic Lattice
Price: 2888 CNY
Availability: InStock

产品型号：WPA-300-L

更新时间：2026-09-03

厂商性质：经销商

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日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统
日本Photonic Lattice 二维双折射评估系统

WPA-300系列保留了WPA-200系列的高相位差测量能力，同时将偏振图像传感器的分辨率提高了五倍，从而实现了更清晰的测量结果。即使是微小的相位差变化也能被捕捉并转换为更清晰的数据。

WPA-300-L 规格
	测量
输出项目	相位差（nm），相位轴方向（°）*应力值可通过数据处理选项进行转换（MPa）
测量范围	0–3500nm（使用石英晶体评估时）
重复性	相位差：1σ < 0.1 nm；轴向取向：1σ < 0.1°（相位差 > 10nm）
	传感器单元
双折射像素的数量	约 570,000 像素（数据点：848 x 680）
测量波长	523纳米、543纳米、575纳米
	内阁
尺寸（宽 x 深 x 高）	430 x 508 x 最大 1135 毫米
测量视场尺寸	约 36 x 45 毫米至 255 x 320 毫米（标准镜头）约 12 x 15 毫米至 32 x 40 毫米（变焦镜头 *可选）
主机重量	约25公斤
	其他的
界面	千兆以太网（摄像机信号）
电源/电流消耗	交流100~240伏（50/60赫兹）/约5.0安
软件	WPA视图
配件	台式电脑、标准镜头、使用说明书
	选项
变焦镜头	一致
数据处理功能	一致
广域校正功能	一致
透镜分析功能	一致
实时分析功能	一致
外部控制功能	一致
波长色散（CD）模式	一致
WPA高相位差测量功能	待讨论
镜头测量专用舞台	待讨论
PA/WPA系统的遮光罩	一致
光弹性系数测量选项	一致