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KAB07070AM-LC-BSURUGA SEIKI自动舞蹈 双轴测角仪滚珠丝杠





产品型号:KAB07070AM-LC-B
更新时间:2026-07-02
厂商性质:经销商
访问量:4
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SURUGA SEIKI自动舞蹈 双轴测角仪滚珠丝杠
SURUGA SEIKI自动舞蹈 双轴测角仪滚珠丝杠
KAB:滚珠丝杠双轴测角仪系列
07:70×70mm 台面规格代号
070/096/122:旋转中心高度 70/96/122mm 三档
A/M:标准 5 相步进电机;M-HR 高分辨率 5 相电机
L/R:电机左侧 / 右侧安装
C/G/H/J:线缆规格(长度、连接器、耐弯折机器人线)
后缀 A/B:2m 裸线、2m 双接头、4m 长线区分
φ6 预紧滚珠丝杠传动,极低背隙、运动顺滑
导程 1mm 循环钢珠预紧结构,传动间隙极小,匀速扫描无抖动、启停响应快;无机械自锁,断电角度会偏移,适合持续通电自动化扫描场景,不适合长期静态定点观测骏河精机科...。
全行程交叉滚柱双导轨,高刚性低跳动
上下双轴均搭载交叉滚柱导向,抗倾覆力矩强;回转中心径向跳动≤0.01mm,大尺寸晶圆、镜头放置无倾斜形变。
70×70mm 加宽台面,适配大尺寸样品
对比 KAB06(60 台面)承载面积更大,可放置 8 寸小晶圆、大口径分光镜、光学镜头模组、定制真空治具,台面密布 M4 标准安装螺纹孔,拓展性更强。
三档旋转中心高度全覆盖光路
70mm(通用标准光路)、96mm(中高镜头)、122mm(立式长焦距 / 椭偏仪高光路),统一台面规格,多设备光路兼容选型简单。
一体式同轴双轴,省去拼接误差
俯仰、偏摆共用同一旋转中心,光路双角度调节无偏心偏移;相比两台单轴 KG/KG07 拼接,体积更小、同轴精度更高、调试工作量少。
高精度重复定位,适配光谱 / 薄膜检测
标准电机重复定位≤±0.003°,高分辨率 HR 版本可达 ±0.001°,背隙控制≤0.003°,优于蜗轮蜗杆双轴 KAW/KA 系列,适合连续角度扫描采集数据。
白色阳极铝合金机身
区别 KAB06 黑色阳极,白色外观耐脏易观察;轻量化一体铸铝,防锈耐磨,整机约 1.94kg,适合多轴堆叠搭建六维调整平台。
独立限位 + 原点光电传感
每轴独立硬件限位 + 中心原点感应,DC5~24V 通用信号,支持自动回零、PLC 联动、自动化循环测试。
| 参数项目 | 标准规格 |
|---|---|
| 载物台面 | 70×70 mm |
| 上轴(俯仰)行程 | ±5° |
| 下轴(偏摆)行程 | ±4° |
| 额定负载 | 4 kgf(39.2 N) |
| 驱动机构 | φ6 滚珠丝杠,导程 1mm |
| 导向 | 交叉滚柱导轨 |
| 台面基准高度 | 52±0.4 mm |
| 旋转中心高度 | 70±0.4 mm |
| 标准电机重复定位 | ≤±0.003° |
| 高分辨 HR 电机重复定位 | ≤±0.001° |
| 最大运动速度 | 上轴 14.1~22.6 °/s;下轴 11.2~16.9 °/s |
| 整机重量 | 约 1.94 kg |
| 台面安装螺纹 | M4 沉头孔 |
| 材质 | 铝 白色硬质阳极氧化 |
行程:上轴 ±4° / 下轴 ±3°
负载、精度、台面尺寸一致,适配中等高度工业检测镜头、立式光谱设备。
行程:上轴 ±4° / 下轴 ±3°
加高中心高度,适配长焦距显微镜头、立式椭偏仪、大型分光测试系统。
M:标准 5 相增量步进(常规光学检测,性价比)
M-HR:高分辨率 5 相步进(光谱扫描、薄膜测厚、干涉仪高精场景)
AR:αStep 增量编码电机,运行震动更低、定位平稳
AZ:αStep 绝对值编码,上电无需回零,自动化流水线优选
定制:EtherCAT 总线伺服、三菱 / 松下交流伺服(高速产线)
A:2m 单端裸线;B:2m 双端连接器;C:4m 标准连接器
G/H:耐弯折机器人线缆;J:4m 单端裸长线;无后缀 = 裸机无线缆
光学精密测试
椭偏仪薄膜厚度检测、干涉仪光路双维度对准、光谱多角度连续扫描、大口径棱镜 / 分光镜倾角校正、光纤激光耦合对位。
半导体晶圆检测
6/8 寸 Wafer 外观缺陷检测、SiC 碳化硅器件光学耦合、芯片模组双角度姿态补偿、光学封装耦合工位。
精密视觉测量设备
3D 激光轮廓扫描、机器视觉大镜头姿态微调、大面积元器件双角度外观检测。
高校科研实验室
光电材料反射 / 透射多角度变量实验、偏振光学平台、显微系统双轴倾角调节。
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