OSI王子计测 相位差测量装置 长样品专用型
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一、主要型号与定位

1. KOBRA‑W 系列（标准长样品台式机）

• KOBRA‑WX50 / WX100 / WX150

  手动进给长样品机型，适配50/100/150mm 幅宽长条薄膜，实验室小批量、研发评价使用，可测相位差 Re、Rth、取向角、双折射、多点分布。

2. KOBRA‑WFD0（全自动长样品测量系统，主力款）

3. KOBRA‑WR / WPR / WFRD（经典长样品机型）

• WR：多波长基础长样品型

• WPR：带椭圆偏振功能，可测膜厚、折射率

• WFRD：带全光谱 + 入射角，科研级长样品系统

4. KOBRA‑100

二、测量原理（与台式 HB 一致，长样品专用走样机构）

• 核心：平行尼科尔旋转法（高速相位差测量）

• 可选：椭圆偏振法、平行尼科尔光谱法（波长色散）

• 标配多波长 LED：450/500/550/590/630/680 nm

• 可扩展：400–800 nm 全光谱、红外光源、入射角 0°~±40°

三、核心性能参数

• 相位差测量范围：1 nm ～ 20000 nm

• 重复精度：±1 nm，可测超低相位差 PI 膜、补偿膜

• 取向角：0–90°，分辨率 0.001°

• 光斑：标准 φ0.8 mm

• 走样方式：手动 / 电动自动连续进给

• 可测样品：长条薄膜、卷材切片、拉伸膜、窄幅光学膜

四、可测量项目

五、长样品机型优势

1. 长条连续扫描：沿样品长度方向自动多点测量，输出相位差变化曲线，快速判断拉伸均匀性、膜材品质波动

2. 幅宽方向评价：对长条膜横向多点检测，评估左右一致性

3. 适配卷对卷切片样品：直接测量工厂卷材裁切长条样，贴合产线实际

4. 与 HB 台式软件通用，数据互通，实验室 — 产线数据可对比

5. 结构稳定，走样平稳，适合长期连续检测

六、典型应用领域

1. 显示光学膜：偏光片、位相差膜、A‑PLS、COP 膜、PI 膜、圆偏光片长条样品评价

2. 高分子薄膜：拉伸 PET/PP 膜、热收缩膜、包装膜、磁性胶片

3. 新材料研发：液晶取向膜、高分子取向度、拉伸工艺优化

4. 工厂质检：卷材来料检验、出货抽检、工艺稳定性监控