OSI王子计测 相位差测量装置 台式实验室型
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一、系列型号划分（3 款台式实验室机型）

1. KOBRA‑HB（基础标准型）

2. KOBRA‑HBPR（椭圆偏振增强型）

3. KOBRA‑HBSPC（全光谱分光型）

二、核心测量原理（台式机三合一技术）

1. 平行尼科尔旋转法：高速测量面内相位差 Re、取向角、双折射 Δn，常规检测标配模式；

2. 旋转偏振器法（椭圆偏振）（HBPR 专属）：测椭圆率、膜厚、折射率、消光系数；

3. 平行尼科尔光谱法（HBSPC 专属）：连续光谱扫描，分析波长色散特性。

三、核心性能参数（台式实验室通用）

测量量程与精度

• 相位差：1nm～20000nm，覆盖超低位相差 PI 膜 / 补偿膜到高位相差厚板材；

• 相位差重复精度：±1nm，低相位差样品灵敏度强；

• 取向角：0–90°，角度分辨率 0.001°；

• 测量光斑：标准 φ0.8mm，大面积模式 5.8mm 方形；

• 入射角测量：支持 0°–±40° 入射角依赖性测试。

光源配置

• 标准多波长 LED：450/500/550/590/630/680nm；

• HBSPC：400–800nm 全光谱连续光源；

• 可选红外 850–1100nm 版本；

• 长寿命 LED 光源，免灯泡更换，低维护。

样品规格（台式机适配）

• 垂直入射样品：≥30mm 方形；

• 入射角测量样品：40×50mm 以内，厚度≤3mm；

• 兼容薄膜、薄片、板材、微小元件，夹具通用，样品取放便捷。

四、台式机型核心优势（实验室专用）

1. 紧凑台式机身：体积小、重量轻，节省实验室台面空间，布局灵活；

2. 操作极简：一键自动测量，专用 KOBRA‑DSP 软件，自动导出报告、多点 Mapping 分布；

3. 一机多用：常规相位差 + 椭圆偏振 + 光谱色散三模式可选，覆盖研发全需求；

4. 兼容性强：与 KOBRA‑W 系列长幅机型通用夹具、配件，设备升级成本低；

5. 稳定性优异：长期检测数据重复性好，适配高校、企业实验室、第三方检测机构。

五、可测量项目

六、实验室典型应用领域

1. 显示行业：LCD/OLED 偏光片、相位差补偿膜、PI 膜、COP 基材、圆偏光片研发 / 来料检测；

2. 高分子材料：拉伸膜、热收缩膜、光学板材、磁性胶片取向度评价；

3. 半导体 / 光学：光学镀膜、晶圆、光磁盘、精密透明元件光学特性检测；

4. 科研机构：液晶材料、高分子新材料偏振光学特性深度研究。